在小孔徑小公差的檢測(cè)中(主要是H7級(jí)公差及以下)的檢測(cè),常見(jiàn)的方式是采用塞規(guī)檢測(cè),但由于這類(lèi)塞規(guī)由于設(shè)計(jì)公差范圍較小,采用塞規(guī)檢測(cè)方法,會(huì)存在以下弊端:
1、塞規(guī)制作成本高
根據(jù)工具車(chē)間和同行業(yè)的數(shù)據(jù)分析,只有塞規(guī)的公差大于0.003mm時(shí),塞規(guī)才能保證95%以上的產(chǎn)品合格率;當(dāng)小于0.0015mm時(shí),只能保證33%的合格率;當(dāng)小于0.0025mm且大于0.0015mm時(shí),只能保證67%的合格率。
2、使用成本高
通端的下差和磨損極限的差值即為磨損量,磨損量越小,塞規(guī)的使用壽命越短。
3、計(jì)量困難
根據(jù)計(jì)量室反饋,由于設(shè)計(jì)公差范圍太小,約在0.014mm左右,加工難度大,無(wú)法讀取準(zhǔn)確的數(shù)值,計(jì)量檢測(cè)無(wú)法保證,驗(yàn)收合格率低。
4、產(chǎn)品加工困難
因?yàn)槿?guī)吃掉了產(chǎn)品要求公差的一部分公差,導(dǎo)致產(chǎn)品加工時(shí)壓縮到產(chǎn)品圖要求尺寸的中差,因而對(duì)加工的要求也相應(yīng)提高了。
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